FS-ProTM半導體參數分析儀是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓（IV）測試、電容電壓（CV）測試、脈沖式 IV 測試、高速時域信號采集和低頻噪聲測試能力，其強大而全面的測試分析能力可極大地加速半導體器件與工藝的研發(fā)評估進程。